
本应用笔记中包含的一些指南用于检验下表列出的所选STM32微控制器(MCU)中嵌入的RNG外设生成的数字的随机性。
详阅请点击下载《使用NIST统计测试集验证STM32微控制器随机数生成》
来源:ST
免责声明:本文为转载文章,转载此文目的在于传递更多信息,版权归原作者所有。本文所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题,请联系小编进行处理(联系邮箱:cathy@eetrend.com)。
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