黄越鹏的博客

【爱普特 APT32F110 ev board 试用测评连载】开箱实验A- IC内部温度实验

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感谢电子创新网提供平台,感谢爱普特提供的硬件与CDK编译器;看了一下技术资料,与DEMO 的例子,大概熟悉了硬件与软件结构,就直接上手吧。遇到问题再解决。这样对新的IC平台有进一步认识。

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