ADC

本期是以PT32L007开发板为例展开讲述ADC的使用，主要分为PT32L007的ADC外设介绍、开发板ADC硬件说明、ADC采集实验例程说明、ADC采集电压测试四个部分。

客户在使用 STM32G0B1 进行产品开发的时候，使用到了 ADC 模块通道 0 进行电压检测，在产品生产过程中，测试发现某些样机 ADC 采样到的数据与实际不符合，误差比较大，样品除了 ADC 采样数据误差较大，其它功能都正常，客户进行了交叉测试，发现问题是随着 MCU 走，因此排除了板子的问题，同时我方对客户的原理图以及软件部分代码进行了复查，也没有发现问题。

独立模式的ADC采集需要在一个通道采集并且转换完成后才会进行下一个通道的采集。而双重ADC的机制就是使用两个ADC同时采样一个或者多个通道。

CKS32F107xx系列产品提供2个12位的模拟/数字转换器(ADC)，每个ADC共用多达16个外部通道，各通道的A/D转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行。ADC的结果可以左对齐或右对齐方式存储在16位数据寄存器中。

AT32 的 ADC 是一个将模拟输入信号转换为设定分辨率数位数字信号的外设。采样率最高可达 5.33MSPS。多达 26 个通道源可进行采样及转换。具备多种功能强大的模式，本文主要以 ADC 的特 色功能进行讲解和案列解析。

很多 STM32 系列中的 ADC 都带有自校准的功能。它提供了一个自动校准的过程，用于驱动包括 ADC 上电/掉电序列在内的所有校准动作。在这个过程中，ADC 计算出一个校准因子，并在内部应用到此 ADC 模块，直到下一次 ADC 掉电。在执行任何 ADC 操作之前必须校准，以消除芯片之间 ADC 结果的偏差。

本视频我们介绍灵动MM32MCU方案：基于MM32F5270的ADC过采样。

• 时钟及状态，由数字和模拟时钟两个部分组成
• 支持分辨率为12位的转换，采样周期支持广范围的配置
• 自校准，自带校准功能以纠正数据偏移
• 基本模式，支持多种模式，不同模式可组合使用满足多种应用
• 不同优先权的通道，普通通道与抢占通道具备不同的优先权
• 多种独立的触发源，包括TMR、EXINT、软触发等多种触发选择
• 数据后级处理，包括数据的对齐，抢占通道偏移量等多种处理
• 过采样器，普通及抢占通道均支持过采样
• 电压监测，通过对转换结果的判定来实现电压监测
• 中断及状态事件，具备多种标志指示ADC状态，且某些标志还具备中断功能
• 多种转换数据的获取方式，包括DMA获取、CPU获取两种方式实现转换数据的读取

本文以RA4M2为例介绍如何设置ADC窗口比较功能。

MindSDK为MM32主流的微控制器，实现了一组ADC样例工程。本文通过讲解ADC模块的样例工程，介绍ADC模块的功能和用法。关于ADC模块对应的驱动程序，以及ADC外设模块硬件的实现细节，可具体查阅MindSDK工程的源文件，以及MM32微控制器（例如MM32F5270）的用户手册。