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STM32F7与STM32F4复位序列之比较

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前言

初次接触到STM32F7,可能会有个疑惑,为什么0地址变成了ITCM RAM的起始地址。系统复位还是从地址0处开始执行吗?如果是,那这似乎看起来是冲突的。实际上,STM32F7是基于Cortex-M7内核,而Cortex-M7和Cortex-M3/M4的复位序列有些不一样。本文中,将针对这个问题做详细讲解。

STM32F4的复位序列

STM32F4基于Cortex-M4。对于基于Cortex-M3/M4的芯片,复位后总是从0x00000000地址处,取主堆栈指针(MSP)的值,从0x00000004处,取出PC的初始值(这个值是复位向量),然后从这个值对应的地址处取指。

单片机内部结构原理分析

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一、单片机内部结构分析

我们来思考一个问题,当我们在编程器中把一条指令写进单片机内部,然后取下单片机,单片机就可以执行这条指令,那么这条指令一定保存在单片机的某个地方,并且这个地方在单片机掉电后依然可以保持这条指令不会丢失,这是个什么地方呢?这个地方就是单片机内部的只读存储器即ROM(READ ONLY MEMORY)。为什么称它为只读存储器呢?刚才我们不是明明把两个数字写进去了吗?原来在89C51中的ROM是一种电可擦除的ROM,称为FLASH ROM,刚才我们是用的编程器,在特殊的条件下由外部设备对ROM进行写的操作,在单片机正常工作条件下,只能从那面读,不能把数据写进去,所以我们还是把它称为ROM。

二、几个基本概念

1、数的本质和物理现象

写出高效优美的单片机C语言代码

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1、单片机晶振不起振原因分析
遇到单片机晶振不起振是常见现象,那么引起晶振不起振的原因有哪些呢?
(1) PCB板布线错误;
(2) 单片机质量有问题;
(3) 晶振质量有问题;
(4) 负载电容或匹配电容与晶振不匹配或者电容质量有问题;
(5) PCB板受潮,导致阻抗失配而不能起振;
(6) 晶振电路的走线过长;
(7) 晶振两脚之间有走线;
(8) 外围电路的影响。
解决方案,建议按如下方法逐个排除故障:
(1) 排除电路错误的可能性,因此你可以用相应型号单片机的推荐电路进行比较。
(2) 排除外围元件不良的可能性,因为外围零件无非为电阻,电容,你很容易鉴别是否为良品。
(3) 排除晶振为停振品的可能性,因为你不会只试了一二个晶振。
(4) 试着改换晶体两端的电容,也许晶振就能起振了,电容的大小请参考晶振的使用说明。
(5) 在PCB布线时晶振电路的走线应尽量短且尽可能靠近IC,杜绝在晶振两脚间走线。

单片机C语言几种内存泄露总结

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日常项目中碰到的内存泄露无非有以下几种:

(1) 堆内存泄漏(Heap leak)。堆内存指的是程序运行中根据需要分配通过malloc,realloc new等从堆中分配的一块内存,再是完成后必须通过调用对应的 free或者delete 删掉。如果程序的设计的错误导致这部分内存没有被释放,那么此后这块内存将不会被使用,就会产生Heap Leak. 这是最常见的内存泄露。

(2)系统资源泄露(Resource Leak).主要指程序使用系统分配的资源比如 Bitmap,handle ,SOCKET等没有使用相应的函数释放掉,导致系统资源的浪费,严重可导致系统效能降低,系统运行不稳定

如果您创建一个可接合的POSIX线程,但是忘记联接它,其资源或私有内存一直保存在进程空间中,从未进行回收再利用。一定要联接可接合的线程;否则,可能会引起严重的内存泄漏问题。

转自: 玩转单片机

STM8S单片机入门2(关机模式开关机按钮)

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开关机功能是使用电池供电系统的最基本功能。如果使用机械式开关(2段拨动开关,自锁开关等)等直接接通和切断电源,不说机械部件的可靠性,至少自动关机(一般在长时间不操作、电池电量低时需要自动关机)功能就比较难实现。所以电池供电系统一般采用按钮开关,用一个按钮配合软件实现按一次开机、再按一次关机的功能及自动关机的功能。

这部分内容就讲述如何在上实现一键式的开关机功能。开关机功能要使用单片机的一个引脚(PD4)作为输入端,连接到按钮,接收按纽按下产生的电信号,然后再使用另一个引脚(PD3)作为输出端去驱动由三极管8550构成的一个电子开关实现对系统电源的控制。而STM8S单片机本身就直接接在电池上,利用单片机的停机模式,将单片机本身的电流降低到μA级,对电池的消耗就可以忽略不计了。

1、电路设计

电路图如下,C1是STM8S单片机VCAP电容,保持内部1.8V电压的稳定,是STM8S单片机唯一必须接要的外部元件,选用容量为1μF的瓷片电容,而且从电路可靠性讲,这个电容越靠近单片机IC越好。

对STM32系统时钟和分频的一点理解

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系统时钟和分频
首先来手册里的一段话。
三种不同的时钟源可被用来驱动系统时钟 (SYSCLK)
HSI振荡器时钟
HSE振荡器时钟
PLL时钟
一般用的是PLL时钟,后面有证据。
我们可以通过库函数获取各时钟值
void RCC_GetClocksFreq(RCC_ClocksTypeDef* RCC_Clocks)
在我的系统里,把时钟值打印信息如下:
SYSCLK:0x44aa200 //72000000, 72MHz
HCLK:0x44aa200 //72000000, 72MHz
PCLK1:0x2255100 //36000000, 36MHz
PCLK2:0x44aa200 //72000000, 72MHz
ADCCLK:0x2255100 //36000000,36MHz
RCC->CFGR:0x001D040A //PLL输出作为系统时钟
可推测几个预分频值为
AHB prescaler = 1

STM8S单片机入门1(开发环境搭建)

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STM8S单片机开发环境由三大部分组成,包括PC机上的开发软件(集成开发软件、驱动程序等)、调试&编程器ST-LINK、目标单片机电路板。如下图所示:

STM8S单片机入门1(开发环境搭建)

1、PC机上开发软件

PC机上的软件包括:ST-LINK驱动程序、IAR集成开发环境、STM8S标准函数库、STVP烧录工具。
ST-LINK调试&编程器需要驱动程序

这个驱动程序不需要单独安装,安装STVP时会一起安装。

IAR集成开发环境

IAR集成开发环境是集程序编辑、编译、程序下载、调试等功能为一体的集成开发工具,它可以通过 ST-LINK调试&编程器向目标STM8S单片机下载程序,并进行在线调试(包括设置断点、单步执行、查看内单片机存数据等)。

STM8S单片机入门(前言)

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STM8S单片机是一款广泛使用的8位低功耗单片机,具备系统成本低、功能强大等特点。功能强大也带来了学习入门相对较难的问题。本入门教程面向无任何单片机基础的人,从开发环境的搭建开始,通过详细讲解一个典型单片机应用系统最基本设计和实现过程,帮助大家快速入门。

单片机应用系统的形态很多,但基本模式类似。以智能硬件的应用为例,各种智能硬件区别大多是输入电路(各种传感器及外部信号输入)和输出电路(控制电路、动作电路)的不同,基础部分单片机、电池和充电管理、无线数据模块都是类似的。

所以本入门教程选取包含开关机电路、锂电池充电及电源管理、蓝牙无线接口的一个单片机应用实例,通过讲解这些功能的实现过程,把 STM8S单片机的GPIO、中断程序、AD转换、串口通讯、停机模式的使用等知识点串接起来,让大家对STM8S单片机有个整体的认识和掌握。

STM8S单片机入门(前言)

另外本教程中单片机的程序开发使用C语言,所以需要提前具备一定C语言基础。

stm32内存管理总结

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一、内存管理简介

内存管理,是指软件运行时对计算机内存资源的分配和使用的技术。其最主要的目的是如何高效,快速的分配,并且在适当的时候释放和回收内存资源。内存管理的实现方法有很多种,他们其实最终都是要实现 2 个函数:malloc 和 free;malloc 函数用于内存申请,free 函数用于内存释放。本章,我们介绍一种比较简单的办法来实现:分块式内存管下面我们介绍一下该方法的实现原理,如图

stm32内存管理总结

内存管理表的项值代表的意义为:当该项值为 0 的时候,代表对应的内存块未被占用,当该项值非零的时候,代表该项对应的内存块已经被占用,其数值则代表被连续占用的内存块数。比如某项值为 10,那么说明包括本项对应的内存块在内,总共分配了 10 个内存块给外部的某个指针。内寸分配方向如图所示,是从顶到底的分配方向。即首先从最末端开始找空内存。当内存管理刚初始化的时候,内存表全部清零,表示没有任何内存块被占用。

msp430 学习经验总结6个方面

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1.MSP430开发环境建立
1.安装IAR dor msp430 软件,软件带USB仿真器的驱动。
2.插入USB仿真器,驱动选择安装目录的/drivers/TIUSBFET
3.建立一个工程,选择"option"选项,设置
a、选择器件,在"General"项的"Target"标签选择目标器件
b、选择输出仿真,在"Linker"项里的"Output"标签,选择输出"Debug information for C-SPY",以输出调试
信息用于仿真。
c、若选择"Other",Output下拉框选择"zax-m"即可以输出hex文件用以烧录,注意,此时仿真不了。
d、选择"Debugger"项的"Setup"标签,"Driver"下拉框选择"FET Debugger"
e、选择"FET Debugger"项的"Setup"标签,"Connection"下拉框选择"Texas Instrument USB-I"
4.仿真器的接口,从左到右分别为 " GND,RST,TEST,VCC"

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