实战经验 | STM32G0B1 ADC数据异常原因


客户在使用 STM32G0B1 进行产品开发的时候,使用到了 ADC 模块通道 0 进行电压检测,在产品生产过程中,测试发现某些样机 ADC 采样到的数据与实际不符合,误差比较大,样品除了 ADC 采样数据误差较大,其它功能都正常,客户进行了交叉测试,发现问题是随着 MCU 走,因此排除了板子的问题,同时我方对客户的原理图以及软件部分代码进行了复查,也没有发现问题。
客户在使用 STM32G0B1 进行产品开发的时候,使用到了 ADC 模块通道 0 进行电压检测,在产品生产过程中,测试发现某些样机 ADC 采样到的数据与实际不符合,误差比较大,样品除了 ADC 采样数据误差较大,其它功能都正常,客户进行了交叉测试,发现问题是随着 MCU 走,因此排除了板子的问题,同时我方对客户的原理图以及软件部分代码进行了复查,也没有发现问题。
客户项目中使用的 MCU 型号是 STM32G0B1, 他们反馈在代码中尝试擦除并编程 FLASH时, 发现 FLASH 的状态寄存器显示编程错误。 问题是当前代码还没有开始擦除和编程, 怎么就有了编程错误标志了呢 ?