Holtek新推出HT45R0072 USB Wired Keyboard MCU，继HT82B40R之后再度推出键盘MCU产品，针对USB有线键盘产品应用，最大34根I/O支持键盘扫描与LED显示。
HT45R0072兼容USB 2.0 Low Speed规范，工作电压3.3V~5.5V、系统频率为内建振荡器提供之6MHz/12MHz，可减少外围组件。HT45R0072规格包含有4Kx16 OTP ROM、160 Bytes RAM、Low Speed USB、3个Endpoints、最多34根双向I/O、1组8-bit Timer、1组16-bit Timer以及内建Regulator 3.3V输出提供外围应用，提供Dice与46-pin QFN封装形式选择，46-pin QFN封装与HT82B40R脚位相容。
来源： HOLTEK
STM32 提供了丰富的接口资源，其中包括 USB FS、USB HS、OTG FS 和 OTG HS。对于高速 USB，由于信号速率相对较高。在开发过程中，会对高速 USB 信号质量进行测试，例如运用广泛的眼图测试。STM32 的高速 USB/OTG IP 遵循USB 2.0 规范，能够配合实现眼图等信号质量测试项。本文中，首先介绍眼图等信号质量测试的实现框架，然后以 Cube 软件包中 USB 设备类的 HID 例程为基础，提供软件层面的修改。最后通过 USB 官方提供的 HSETT 工具，一步一步呈现如何使STM32 实现的 USB 设备进入测试模式，以便使其输出用以获取眼图等测试项的信号。
一 信号质量测试背景介绍
高速 USB 信号质量测试，实现框架如下图。
其中，HSETT 全称 High-speed Electrical Test Tool，是 USB 官方组织发布的一个发包工具（官网 www.usb.org 下载）。
STM32 的高速 USB IP 遵循 USB2.0 规范，支持多种测试模式，包括 Test_J 模式、Test_K 模式、Test_SE0_NAK 模式、Test_Packet 模式和 Test_Force_Enable 模式。更多测试模式内容的介绍请参考 USB2.0 规范。 更多内容请参考对应型号的参考手册。其中，如果是进行眼图测试，需要进入 Test_Packet 测试模式。
二 软件层面支持
本文中实现环境如下：
硬件平台： STM32F469I-EVAL
Cube 软件包版本： v1.16.0
HID 例程文件路径 ：
STM32Cube_FW_F4_V1.16.0\Projects\STM32469I_EVAL\Applications\USB_Device\HID_Standalone.HS Electrical Test Tool (HSETT)
通过上述介绍可以了解到高速 USB 的信号质量测试，需要 USB 器件进入测试模式，提供符合测试的信号输出。基于此，下面列出例程中添加及修改处，以实现 HID 设备对测试模式的支持。
完成上述修改，编译生成执行文件，并加载到 STM32F469I-EVAL 板。注： 工程中包含三个子工程，分别是STM32469I-EVAL_USBD-FS、STM32469I-EVAL_USBD-HS-IN-FS 和 STM32469I-EVAL_USBD-HS，选择 STM32469IEVAL_USBD-HS实现高速 USB 的 HID 设备功能。
三 测试模式进入
利用 USB 数据线将 STM32F469I-EVAL 板上的高速 USB 口与电脑连接。如果 HID 例程运行正常，电脑会对将其识别为HID 设备，可在电脑的设备管理器中查看，如下图。
打开 HS Electrical Test Tool，出现主控制器选择界面，如下图。界面中内容及出现情况与电脑有关，如果电脑仅包含一个主控制器，不会出现选择界面。注意 HSETT 工具用于 USB2.0，如果电脑只有 USB3.0 主控制器，会出现无法找到USB2.0 主控制器的提示，并且不能使用。
从设备管理器进入，查看主控制器属性中的位置路径。查找与 HID 设备的位置路径关联的主控制器，如下图（主控制器的总线、设备和功能号信息，在下图界面的“常规”标签中）。
根据图中信息确定选择 “PCI 总线 0、设备 29、功能 7”，出现选择测试类型的界面，如下图。
本文中介绍 USB 设备的测试实现。选择 “Device”，单击“TEST”，进入测试模式的界面，如下图
界面中列出了挂载在主控制器上的 USB 设备硬件 ID，选择对应的设备。(实验时，对应 USB 主控制器上只挂载了STM32 实现的 HID 设备。)
点击 “Enumerate Bus”重新与设备建立枚举。枚举成功出现如下提示。
HSETT 提供了多种设备命令，如下图。为了实现眼图测试，选择“TEST_PACKET ”，单击“EXECUTE”，向 USB 设备发送设置 Test_Packet 模式的命令。
发送成功，并被 USB 设备正确响应后，出现如下提示。然后可以单击“Return To Main” “Exit”退出 HSETT，释放主控制器的控制。
STM32 高速 USB 进入测试模式，通过 USB 接口连续循环地向外输出测试需要的信号。在进入测试模式后，信号的发送不受 USB 数据线连接的影响，断开 USB 数据线，依然会发送信号，以便获取眼图等测试信号。
四 小结
本文简略的从 STM32 角度，描述了高速 USB 信号质量测试中，涉及到的修改及实现。对于具体的测试及分析，不在本文介绍范围内，读者可以通过提供的参考文档 Universal Serial Bus Implementers Forum Device Hi-Speed Electrical TestProcedure，更加全面的了解信号质量测试的步骤及实现。另外，文件中以 HID 设备为例，但需知测试实现与哪种类型 USB设备无关。
独具无比伦比灵活性的Microchip新款器件，客户设计的绝佳选择
随着车载信息娱乐系统的兴起，汽车制造商需要在汽车显示屏和多台智能手机或者平板电脑之间建立可靠而智能的连接。
Microchip Technology Inc.是提供支持此类连接的集成电路（IC）的业界翘楚，推出的5款新型USB 2.0智能集线器IC为用户提供了多种选择。这些器件有各种架构，能够非常灵活地适应汽车制造商的设计需求，满足消费者对系统易于使用而且直观的要求。
如需了解有关这些新器件的更多信息，请访问： www.microchip.com/USB4914 。
这5款新器件支持各种架构，因此制造商可以轻松地将其特定设计连接至所有主流智能手机操作系统。这些系统支持将手机或者平板电脑的图形用户界面显示在车辆屏幕上，与车内语音命令集成，同时还能对移动设备进行充电，并支持手机上的辅助驾驶应用程序与汽车信息娱乐系统相集成。
Microchip新款智能集线器IC支持集线器级联到第二和第三排座位，数据可同时出现在所有端口上，并具备充电功能。例如，如果有两个USB端口，一个端口可以把手机或者平板电脑连接到汽车主机，而另一个端口既可以充电也可以上传/下载数据。采用Microchip的新款USB4914、USB4916、USB4925和USB4927智能集线器IC，汽车制造商可以定制自己的解决方案以满足其设计需求。随着汽车越来越成为一种娱乐环境，制造商可以开发新颖的解决方案——支持消费者使用一部手机进行导航，而另一部用于听音乐或者看视频。
Microchip的USB和联网产品部副总裁Mitch Obolsky说：“Microchip是汽车行业USB集线器IC的领导者。我们的长期投入取得了专利技术，为手持设备与车辆的连接提供独特的主机/设备总线配置，更好地获得信息，实现更安全的辅助驾驶和通信功能。”
Microchip新款USB4715、USB4914、USB4916、USB4925和USB4927 USB 2.0智能集线器IC独特的USB配置包括了单路和双路总线实现，能够很好地连接信息娱乐系统。所有器件都使用大多数汽车主机系统的标准USB驱动程序，以便更迅速地开发和验证系统，进行现场更新。每一器件还集成了一个32位单片机，用于高级桥接、音频应用支持和USB供电（USB PD）。
开发支持
每一新款USB 2智能集线器IC都提供应用演示电路板和评估电路板。应用演示电路板模拟了一级供应商或者原始设备制造商（OEM）在其实际应用中使用的一个系统。Microchip还演示了一个USB供电应用，按照USB PD 3.0规范进行充电。
供货
USB4715、USB4914和USB4925提供48引脚QFN封装。USB4916和USB4927提供64引脚QFN封装。该器件目前已经量产，10,000片起可批量供货。
STM32 提供了丰富的接口资源，其中包括 USB FS、USB HS、OTG FS 和 OTG HS。对于高速 USB，由于信号速率相对较高。在开发过程中，会对高速 USB 信号质量进行测试，例如运用广泛的眼图测试。STM32 的高速 USB/OTG IP 遵循USB 2.0 规范，能够配合实现眼图等信号质量测试项。本文中，首先介绍眼图等信号质量测试的实现框架，然后以 Cube 软件包中 USB 设备类的 HID 例程为基础，提供软件层面的修改。最后通过 USB 官方提供的 HSETT 工具，一步一步呈现如何使STM32 实现的 USB 设备进入测试模式，以便使其输出用以获取眼图等测试项的信号。
一 信号质量测试背景介绍
高速 USB 信号质量测试，实现框架如下图。
根据测试需要，利用电脑端测试软件工具 HSETT，使 STM32 实现的 USB 设备进入相应的测试模式。然后利用示波器抓取测试信号，进行信号质量分析。本文中不包含示波器抓取信号的实现描述，读者可以通过文末的参考文档进行了解。
其中，HSETT 全称 High-speed Electrical Test Tool，是 USB 官方组织发布的一个发包工具（官网 www.usb.org 下载）。
STM32 的高速 USB IP 遵循 USB2.0 规范，支持多种测试模式，包括 Test_J 模式、Test_K 模式、Test_SE0_NAK 模式、Test_Packet 模式和 Test_Force_Enable 模式。更多测试模式内容的介绍请参考 USB2.0 规范。 更多内容请参考对应型号的参考手册。其中，如果是进行眼图测试，需要进入 Test_Packet 测试模式。
二 软件层面支持
本文中实现环境如下：
硬件平台： STM32F469I-EVAL
Cube 软件包版本： v1.16.0
HID 例程文件路径 ：
STM32Cube_FW_F4_V1.16.0\Projects\STM32469I_EVAL\Applications\USB_Device\HID_Standalone.
HS Electrical Test Tool (HSETT)
通过上述介绍可以了解到高速 USB 的信号质量测试，需要 USB 器件进入测试模式，提供符合测试的信号输出。基于此，下面列出例程中添加及修改处，以实现 HID 设备对测试模式的支持。
完成上述修改，编译生成执行文件，并加载到 STM32F469I-EVAL 板。注： 工程中包含三个子工程，分别是
STM32469I-EVAL_USBD-FS、STM32469I-EVAL_USBD-HS-IN-FS 和 STM32469I-EVAL_USBD-HS，选择 STM32469I-EVAL_USBD-HS实现高速 USB 的 HID 设备功能。
三 测试模式进入
利用 USB 数据线将 STM32F469I-EVAL 板上的高速 USB 口与电脑连接。如果 HID 例程运行正常，电脑会对将其识别为HID 设备，可在电脑的设备管理器中查看，如下图。
打开 HS Electrical Test Tool，出现主控制器选择界面，如下图。界面中内容及出现情况与电脑有关，如果电脑仅包含一个主控制器，不会出现选择界面。注意 HSETT 工具用于 USB2.0，如果电脑只有 USB3.0 主控制器，会出现无法找到USB2.0 主控制器的提示，并且不能使用。
从设备管理器进入，查看主控制器属性中的位置路径。查找与 HID 设备的位置路径关联的主控制器，如下图（主控制器的总线、设备和功能号信息，在下图界面的“常规”标签中）。
本文中介绍 USB 设备的测试实现。选择 “Device”，单击“TEST”，进入测试模式的界面，如下图。
界面中列出了挂载在主控制器上的 USB 设备硬件 ID，选择对应的设备。(实验时，对应 USB 主控制器上只挂载了STM32 实现的 HID 设备。)
点击 “Enumerate Bus”重新与设备建立枚举。枚举成功出现如下提示。
HSETT 提供了多种设备命令，如下图。为了实现眼图测试，选择“TEST_PACKET ”，单击“EXECUTE”，向 USB 设备发送设置 Test_Packet 模式的命令。
发送成功，并被 USB 设备正确响应后，出现如下提示。然后可以单击“Return To Main” “Exit”退出 HSETT，释放主控制器的控制。
STM32 高速 USB 进入测试模式，通过 USB 接口连续循环地向外输出测试需要的信号。在进入测试模式后，信号的发送不受 USB 数据线连接的影响，断开 USB 数据线，依然会发送信号，以便获取眼图等测试信号。
四 小结
本文简略的从 STM32 角度，描述了高速 USB 信号质量测试中，涉及到的修改及实现。对于具体的测试及分析，不在本文介绍范围内，读者可以通过提供的参考文档 Universal Serial Bus Implementers Forum Device Hi-Speed Electrical TestProcedure，更加全面的了解信号质量测试的步骤及实现。另外，文件中以 HID 设备为例，但需知测试实现与哪种类型 USB设备无关。
来源：ST
