IGBT

国际能源署的数据显示,到 2030 年,太阳能光伏 (PV) 装置的装机容量有望达到 3,300 TWh,与 2019 年的水平相比,年增率为 15%[1],这意味着能源供应的比例在不断上升。光伏装置的安装是将微型、迷你和电力公司规模的混合,但无论哪种情况都采用类似的 PV 技术,电池串联可获得较高的可用电压,并联可获得更高的功率。一个趋势是增加面板串的电压,以获得相应的低电流的优势,在连接和布线中产生较少的功率损失。典型的标称面板安装电压约为 500 V 至 1000 V,但预计未来 1500 V 会更常见[2]

“涨知识!IGBT和SiC

为实现可扩展性、经济性和容错性,每个板串通常都各自配备功率相对较低的逆变器,而不是使用单个中央逆变器。设备内部的 PV 电压通常会提升至适合输入到 DC-AC 转换级的稳压直流值,最大功率点追踪 (MPPT) 控制器可优化面板上的负载,以实现最佳的能量利用。升压式 DC-DC 转换器和逆变器是高效的开关电路,其使用各种技术的半导体。

PV电源转换半导体选项

过去,绝缘栅双极型晶体管 (IGBT)在大功率 DC-DC 和 AC-DC 转换领域一直占主导地位,而新型宽禁带 (WBG) 半导体(如碳化硅 (SiC) MOSFET)现已问世,其额定功率高达数十千瓦,在并联时甚至更高。这两种技术不仅可以作为通用封装(如 TO-247)中的单个设备使用,还可以作为功率集成模块 (PIM) 使用。

PIM 在工业标准外壳中集成了多个开关,有时还带有二极管,甚至驱动器和保护电路。这可以为单一封装中的转换器和逆变器功能提供完整的功率级。

IGBT 和 SiC MOSFET 在几个方面明显不同;由于动态损耗,IGBT 只能用于低频,但在导电时会降低标称恒定饱和电压,从而导致与电流成正比的功率损耗。

相比之下,SiC MOSFET 可在数百 kHz 频率下切换,且动态损耗较低,但在导电时会出现标称恒定电阻,从而导致与电流平方值成正比的功率损耗,随着功率吞吐量的增加,其劣势就越明显。

图 1 显示,在其他类似的条件下,50 A 额定 IGBT PIM 和 38 A SiC PIM 的电压下降与传导损耗成正比,在大约 25 A 时,可实现最佳效率交叉点。该图标适用于结温为 125℃(典型值)的应用。

“图1:125℃
图1:125℃ 条件下,IGBT 和 SiC MOSFET PIM 的压降比较

动态损耗取决于频率,如果在相同低频(如 16 kHz)下,大约 20 A 至 30 A 开关电流下比较图 1 中的 IGBT 和 SiC MOSFET,两者的传导损耗相似,但动态损耗截然不同。图 2 显示的是两种开关损耗电源,分别为开和关能源(Eon 和 Eoff)。

同样,这里也有一个交叉点,但 Eon 相似,两种设备类型的传导损耗大约为 25%,IGBT 略差,但无论如何,绝对值不是很大。然而,由于存在“尾”电流,IGBT 的 Eoff 明显更高,少数载流子必须在关断时从器件 N 漂移区清除,这会出现集电极电压升高,从而产生瞬态功率损耗。图 2 显示两种设备的 Eoff 大约相差 10 倍。

“图
图 2:16 kHz 下,IGBT 和 SiC MOSFET 的动态损耗比较示例

表 1 总结了在 16 kHz 和 95℃ 温度条件下,实际 PV 升压转换器(输入为 500 V,25 A 以及输出为 800 V DC 时)的差异。SiC 的整体功耗明显降低,总损耗仅为 IGBT 电路的三分之一左右,且结温更低,可靠性更高。

“表1:升压转换器在
表1:升压转换器在 16 kHz 条件下的损耗分解

SiC MOSFET在更高频率条件下表现更为出色

除了节能外,利用 SiC 提高效率的好处可以视为减小尺寸,降低散热成本,同样的散热性能时温升更低,或者,同样的散热性能和温升时功率吞吐量更高。这些都是有价值的增益,但值得研究的是,如果利用 SiC 的高频能力会发生什么。将 SiC MOSFET(40 kHz 频率下)与 IGBT(16 kHz 频率下)进行比较,可得到表 2 中的数字。

“表2:IGBT(16
表2:IGBT(16 kHz 条件下)和 SiC MOSFET(40 kHz 条件下)的损耗比较

SiC 器件拥有更高的结温,但作为 WBG 器件,其额定工作温度通常比硅高 25°C。SiC MOSFET 的结果仍表明其效率明显高于 IGBT,损耗只有 IGBT 的一半多,优势旗鼓相当。

不过,频率的增加也使升压电感值和体积减少大约三倍,从而降低了成本,减小了体积和重量。此外,在基频和低谐波下,EMI 滤波可以更小,从而实现进一步的节省。SiC MOSFET 确实有非常快的边缘速率,但必须仔细考虑高频滤波,以满足排放标准。

损耗并不是 IGBT 和 SiC MOSFET 之间的唯一差异。例如,MOSFET 中有一个体二极管,而 IGBT 中却没有。这对于开关中需要反向或“第三象限”传导的转换级非常有用。虽然 SiC MOSFET 体二极管的正向压降相对较高,但可以用于此。当以这种方式使用 IGBT 时,必须增加一个额外的并联二极管。

因此,我们可以找到一个平衡点,即在更高频率下使用 SiC 会使系统获得大量好处,远远超过两种技术之间 PIM 单位成本的差异。随着新一代器件的推出,SiC MOSFET 的导通电阻下降,越来越多应用的利益交叉点增加到更高的功率等级。

SiC需要精心设计以利用其功能

IGBT 和 SiC MOSFET 的栅极驱动名义上看似相似,但 SiC 器件的片上驱动对于实现最低传导损耗更为重要,且必须尽可能接近实际的绝对最大值,通常为 25 V。为此,通常采用 20 V,以提供一定的安全裕度。

两种设备类型名义上都通过 0 V 栅极驱动关闭,但两者通常都由几伏特的负电压驱动。这样可实现更小的 Eoff、更少的关断时栅源振铃,并有助于防止“幻像开启”,其原因可能是与栅极驱动环路共用的任何源极或发射极电感的尖峰。

任何设备的“米勒”电容也可能会在漏极或集电极电压边缘率较高的情况下伪装开启设备。同样,负栅极驱动有助于避免问题。图 3 说明了效果。

“
图3:共源极电感和米勒电容可防止器件关断

耦的高频布局技术,以避免不可靠的运行和过度的 EMI。驱动器必须靠近 SiC MOSFET PIM,任何至 MOSFET 源极的可用“开尔文”连接应用作为驱动器回路导线,以避免共模电感。

由于边缘速率非常快,准确测量 SiC MOSFET PIM 的动态性能可能较困难,所以通常设备应使用 300 MHz 带宽和高频测量技术。电压探针应与最小的接地回路连接,并通过高性能传感器(如 Rogowski 线圈)监测电流。

总结

开关从 IGBT 向 SiC MOSFET 转换可在更高功率级上实现纯系统优势,同时 PIM 可提供一个简单的解决方案。然而,熟悉使用 IGBT 的人应该知道,简单的换出无法实现好的结果,需要重新评估栅极驱动的安排、布局和 EMI 滤波,才能实现最佳性能。

References

[1] https://www.iea.org/reports/solar-pv

[2] https://www.solarpowerworldonline.com/2018/11/high-voltage-solar-systems...

来源:安森美
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围观 179

英飞凌科技股份公司 推出 650 V 关断电压的 CoolSiC™ Hybrid IGBT 单管。新款 CoolSiC™ Hybrid IGBT 结合了 650 V TRENCHSTOP™ 5 IGBT及CoolSiC™肖特基势垒二极管的主要优点,具有出色的开关频率和更低的开关损耗,特别适用于 DC-DC 和功率因数校正 (PFC)。其常见应用包括:电池充电基础设施、储能系统、光伏逆变器、不间断电源 (UPS),以及服务器和电信开关电源 (SMPS)。

由于 IGBT反并联SiC 肖特基势垒二极管,在 dv/dt 和 di/dt 值几乎不变下,CoolSiC™ Hybrid IGBT能大幅降低开关损耗。与标准的Si二极管解决方案相比,新产品可降低多达60%的Eon和30%的Eoff。也可在输出功率保持不变下,开关频率提高至少 40%。较高的开关频率有助于减小无源器件的尺寸,进而降低物料成本。该 Hybrid IGBT 可直接替代 TRENCHSTOP™ 5 IGBT,无需重新设计,便能使每10 kHz开关频率提升 0.1% 的效率。

此产品系列可作为全Si解决方案和高效能 SiC MOSFET 设计之间的衔接,与全Si设计相比,HybridIGBT可提升电磁兼容性和系统可靠性。由于SiC肖特基势垒二极管的单极性特性,使二极管能快速开关,而不会有严重的振荡和寄生导通的风险。此系列提供 TO-247-3或 TO-247-4 引脚的 Kelvin Emitter 封装供客户选择。Kelvin Emitter 封装的第四引脚可实现超低电感的栅极发射极控制回路,并降低总开关损耗。

供货情况

CoolSiC™ Hybrid IGBT 单管延续之前采用 IGBT 与 CoolSiC™肖特基势垒二极管的 CoolSiC™ Hybrid IGBT EasyPACK™ 1B 和 2B 模块的成功经验。此单管产品组合即日起接受订购。产品组合包含反并联半电流CoolSiC™第 6 代SiC二极管的 40A、50A 和 75A 650 V TRENCHSTOP™ 5 超高速 H5 IGBT,或反并联全电流 CoolSiC™第 6 代SiC二极管的快速 S5 IGBT。详细信息敬请访问:www.infineon.com/coolsic- hybrid-discretes。

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英飞凌科技股份公司是全球领先的半导体科技公司,我们让人们的生活更加便利、安全和环保。英飞凌的微电子产品和解决方案将带您通往美好的未来。2020财年(截止9月30日),公司的销售额达85亿欧元,在全球范围内拥有约46,700名员工。2020年4月,英飞凌正式完成了对赛普拉斯半导体公司的收购,成功跻身全球十大半导体制造商之一。

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英飞凌中国

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围观 21

常用的MOS管和IGBT有什么区别呢?对比如下:

1. 简介

MOS管中文名金属氧化物半导体绝缘栅场效应管。其输入阻抗高、开关速度快、热稳定性、电压控制电流等特性。常用MOS管生产厂家有东芝,富士,IR,仙童,英飞凌等。

IGBT中文名绝缘栅双极型场效应晶体管。是MOS管与晶体三极管的组合,MOS是作为输入管,而晶体三极管作为输出管。因此两者组合后即得到了MOS管的优点又获得了晶体三极管的优点。常用IGBT管生产厂家有东芝,富士,仙童,英飞凌等。

2. 外观

NPN型IGBT和N沟道增强型MOS管外形看起来是差不多的,如下图:G-G,C-D,E-S位置相对应。

MOS管和IGBT对比

3. 体二极管

体二极管是封装在管子内部的,也叫寄生二极管或续流二极管。

MOS管和IGBT对比

MOS管和IGBT内部一般都有体二极管。具体需要查看规格书。

关于体二极管的作用,有两种解释:

A、MOS管的体二极管,作用是防止VDD过压的情况下烧坏管子,因为在过压对管子造成破坏之前,二极管先反向击穿,将大电流直接到地,从而避免管子被烧坏。

B、防止MOS管的源极和漏极反接时烧坏MOS管,也可以在电路有反向感生电压时,为反向感生电压提供通路,避免反向感生电压击穿MOS管。

4. 导通电阻

MOS管存在导通电阻高的缺点,因此在高压大电流场合功耗较大;

IGBT实际就是MOS管和晶体管三极管的组合,但IGBT克服了这一缺点,在高压时仍具有较低的导通电阻,因此较大功率场合下表现较好。

5. 开关频率

MOS管的高频特性好,可以工作频率可以达到几百kHz、上MHz;

IGBT存在关断拖尾时间,由于关断拖尾时间长,死区时间也要加长,从而会影响开关频率,适用于频率较低的场合。目前IGBT硬开关速度可以到100KHZ,那已经是不错了。

6. 适用场合

MOS管适用于开关频率高和较小输出功率的场合;
IGBT适用于开关频率低和大功率输出的场合。

来源:硬件笔记本

围观 56

1、由于MOSFET的结构,通常它可以做到电流很大,可以到上KA,但耐压能力没有IGBT强。

2、IGBT可以做很大功率,电流和电压都可以,就是一点频率不是太高,目前IGBT硬开关速度可以到100KHZ,那已经是不错了。不过相对于MOSFET的工作频率还是九牛一毛,MOSFET可以工作到几百KHZ,上MHZ,以至几十MHZ。

3、就其应用:根据其特点MOSFET应用于开关电源,镇流器,高频感应加热;高频逆变焊机;通信电源等等高频电源领域;IGBT集中应用于焊机,逆变器,变频器,电镀电解电源,超音频感应加热等领域。

开关电源(SMPS) 的性能在很大程度上依赖于功率半导体器件的选择,即开关管和整流器。

虽然没有万全的方案来解决选择IGBT还是MOSFET的问题,但针对特定SMPS应用中的IGBT 和MOSFET进行性能比较,确定关键参数的范围还是能起到一定的参考作用。

本文将对一些参数进行探讨,如硬开关和软开关ZVS(零电压转换) 拓扑中的开关损耗,并对电路和器件特性相关的三个主要功率开关损耗—导通损耗、传导损耗和关断损耗进行描述。此外,还通过举例说明二极管的恢复特性是决定MOSFET 或 IGBT导通开关损耗的主要因素,讨论二极管恢复性能对于硬开关拓扑的影响。

导通损耗

除了IGBT的电压下降时间较长外,IGBT和功率MOSFET的导通特性十分类似。由基本的IGBT等效电路(见图1)可看出,完全调节PNP BJT集电极基极区的少数载流子所需的时间导致了导通电压拖尾出现。

一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

这种延迟引起了类饱和效应,使集电极/发射极电压不能立即下降到其VCE(sat)值。这种效应也导致了在ZVS情况下,在负载电流从组合封装的反向并联二极管转换到IGBT的集电极的瞬间,VCE电压会上升。IGBT产品规格书中列出的Eon能耗是每一转换周期Icollector与VCE乘积的时间积分,单位为焦耳,包含了与类饱和相关的其他损耗。其又分为两个Eon能量参数,Eon1和Eon2。Eon1是没有包括与硬开关二极管恢复损耗相关能耗的功率损耗;Eon2则包括了与二极管恢复相关的硬开关导通能耗,可通过恢复与IGBT组合封装的二极管相同的二极管来测量,典型的Eon2测试电路如图2所示。IGBT通过两个脉冲进行开关转换来测量Eon。第一个脉冲将增大电感电流以达致所需的测试电流,然后第二个脉冲会测量测试电流在二极管上恢复的Eon损耗。
一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

在硬开关导通的情况下,栅极驱动电压和阻抗以及整流二极管的恢复特性决定了Eon开关损耗。对于像传统CCM升压PFC电路来说,升压二极管恢复特性在Eon (导通) 能耗的控制中极为重要。除了选择具有最小Trr和QRR的升压二极管之外,确保该二极管拥有软恢复特性也非常重要。软化度,即tb/ta比率,对开关器件产生的电气噪声和电压尖脉冲有相当的影响。某些高速二极管在时间tb内,从IRM(REC)开始的电流下降速率(di/dt)很高,故会在电路寄生电感中产生高电压尖脉冲。这些电压尖脉冲会引起电磁干扰(EMI),并可能在二极管上导致过高的反向电压。

在硬开关电路中,如全桥和半桥拓扑中,与IGBT组合封装的是快恢复管或MOSFET体二极管,当对应的开关管导通时二极管有电流经过,因而二极管的恢复特性决定了Eon损耗。所以,选择具有快速体二极管恢复特性的MOSFET十分重要。不幸的是,MOSFET的寄生二极管或体二极管的恢复特性比业界目前使用的分立二极管要缓慢。因此,对于硬开关MOSFET应用而言,体二极管常常是决定SMPS工作频率的限制因素。

一般来说,IGBT组合封装二极管的选择要与其应用匹配,具有较低正向传导损耗的较慢型超快二极管与较慢的低VCE(sat)电机驱动IGBT组合封装在一起。相反地,软恢复超快二极管,可与高频SMPS2开关模式IGBT组合封装在一起。

除了选择正确的二极管外,设计人员还能够通过调节栅极驱动导通源阻抗来控制Eon损耗。降低驱动源阻抗将提高IGBT或MOSFET的导通di/dt及减小Eon损耗。Eon损耗和EMI需要折中,因为较高的di/dt会导致电压尖脉冲、辐射和传导EMI增加。为选择正确的栅极驱动阻抗以满足导通di/dt 的需求,可能需要进行电路内部测试与验证,然后根据MOSFET转换曲线可以确定大概的值 (见图3)。

一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

假定在导通时,FET电流上升到10A,根据图3中25℃的那条曲线,为了达到10A的值,栅极电压必须从5.2V转换到6.7V,平均GFS为10A/(6.7V-5.2V)=6.7mΩ。
一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别
公式1 获得所需导通di/dt的栅极驱动阻抗

把平均GFS值运用到公式1中,得到栅极驱动电压Vdrive=10V,所需的 di/dt=600A/μs,FCP11N60典型值VGS(avg)=6V,Ciss=1200pF;于是可以计算出导通栅极驱动阻抗为37Ω。由于在图3的曲线中瞬态GFS值是一条斜线,会在Eon期间出现变化,意味着di/dt也会变化。呈指数衰减的栅极驱动电流Vdrive和下降的Ciss作为VGS的函数也进入了该公式,表现具有令人惊讶的线性电流上升的总体效应。

同样的,IGBT也可以进行类似的栅极驱动导通阻抗计算,VGE(avg) 和GFS可以通过IGBT的转换特性曲线来确定,并应用VGE(avg)下的CIES值代替Ciss。计算所得的IGBT导通栅极驱动阻抗为100Ω,该值比前面的37Ω高,表明IGBT GFS较高,而CIES较低。这里的关键之处在于,为了从MOSFET转换到IGBT,必须对栅极驱动电路进行调节。

传导损耗需谨慎

在比较额定值为600V的器件时,IGBT的传导损耗一般比相同芯片大小的600 V MOSFET少。这种比较应该是在集电极和漏极电流密度可明显感测,并在指明最差情况下的工作结温下进行的。例如,FGP20N6S2 SMPS2 IGBT 和 FCP11N60 SuperFET均具有1℃/W的RθJC值。图4显示了在125℃的结温下传导损耗与直流电流的关系,图中曲线表明在直流电流大于2.92A后,MOSFET的传导损耗更大。

一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

不过,图4中的直流传导损耗比较不适用于大部分应用。同时,图5中显示了传导损耗在CCM (连续电流模式)、升压PFC电路,125℃的结温以及85V的交流输入电压Vac和400 Vdc直流输出电压的工作模式下的比较曲线。图中,MOSFET-IGBT的曲线相交点为2.65A RMS。对PFC电路而言,当交流输入电流大于2.65A RMS时,MOSFET具有较大的传导损耗。2.65A PFC交流输入电流等于MOSFET中由公式2计算所得的2.29A RMS。MOSFET传导损耗、I2R,利用公式2定义的电流和MOSFET 125℃的RDS(on)可以计算得出。把RDS(on)随漏极电流变化的因素考虑在内,该传导损耗还可以进一步精确化,这种关系如图6所示。
一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

一篇名为“如何将功率MOSFET的RDS(on)对漏极电流瞬态值的依赖性包含到高频三相PWM逆变器的传导损耗计算中”的IEEE文章描述了如何确定漏极电流对传导损耗的影响。作为ID之函数,RDS(on)变化对大多数SMPS拓扑的影响很小。例如,在PFC电路中,当FCP11N60 MOSFET的峰值电流ID为11A——两倍于5.5A (规格书中RDS(on) 的测试条件) 时,RDS(on)的有效值和传导损耗会增加5%。

在MOSFET传导极小占空比的高脉冲电流拓扑结构中,应该考虑图6所示的特性。如果FCP11N60 MOSFET工作在一个电路中,其漏极电流为占空比7.5%的20A脉冲 (即5.5A RMS),则有效的RDS(on)将比5.5A(规格书中的测试电流)时的0.32欧姆大25%。

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公式2 CCM PFC电路中的RMS电流

式2中,Iacrms是PFC电路RMS输入电流;Vac是PFC电路RMS输入电压;Vout是直流输出电压。

在实际应用中,计算IGBT在类似PFC电路中的传导损耗将更加复杂,因为每个开关周期都在不同的IC上进行。IGBT的VCE(sat)不能由一个阻抗表示,比较简单直接的方法是将其表示为阻抗RFCE串联一个固定VFCE电压,VCE(ICE)=ICE×RFCE+VFCE。于是,传导损耗便可以计算为平均集电极电流与VFCE的乘积,加上RMS集电极电流的平方,再乘以阻抗RFCE。

图5中的示例仅考虑了CCM PFC电路的传导损耗,即假定设计目标在维持最差情况下的传导损耗小于15W。以FCP11N60 MOSFET为例,该电路被限制在5.8A,而FGP20N6S2 IGBT可以在9.8A的交流输入电流下工作。它可以传导超过MOSFET 70% 的功率。

虽然IGBT的传导损耗较小,但大多数600V IGBT都是PT (穿透) 型器件。PT器件具有NTC (负温度系数)特性,不能并联分流。或许,这些器件可以通过匹配器件VCE(sat)、VGE(TH) (栅射阈值电压) 及机械封装以有限的成效进行并联,以使得IGBT芯片们的温度可以保持一致的变化。相反地,MOSFET具有PTC (正温度系数),可以提供良好的电流分流。

关断损耗 —问题尚未结束

在硬开关、钳位感性电路中,MOSFET的关断损耗比IGBT低得多,原因在于IGBT 的拖尾电流,这与清除图1中PNP BJT的少数载流子有关。图7显示了集电极电流ICE和结温Tj的函数Eoff,其曲线在大多数IGBT数据表中都有提供。 这些曲线基于钳位感性电路且测试电压相同,并包含拖尾电流能量损耗。

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图2显示了用于测量IGBT Eoff的典型测试电路, 它的测试电压,即图2中的VDD,因不同制造商及个别器件的BVCES而异。在比较器件时应考虑这测试条件中的VDD,因为在较低的VDD钳位电压下进行测试和工作将导致Eoff能耗降低。

降低栅极驱动关断阻抗对减小IGBT Eoff损耗影响极微。如图1所示,当等效的多数载流子MOSFET关断时,在IGBT少数载流子BJT中仍存在存储时间延迟td(off)I。不过,降低Eoff驱动阻抗将会减少米勒电容CRES和关断VCE的dv/dt造成的电流注到栅极驱动回路中的风险,避免使器件重新偏置为传导状态,从而导致多个产生Eoff的开关动作。

ZVS和ZCS拓扑在降低MOSFET和IGBT的关断损耗方面很有优势。不过ZVS的工作优点在IGBT中没有那么大,因为当集电极电压上升到允许多余存储电荷进行耗散的电势值时,会引发拖尾冲击电流Eoff。ZCS拓扑可以提升最大的IGBT Eoff性能。正确的栅极驱动顺序可使IGBT栅极信号在第二个集电极电流过零点以前不被清除,从而显著降低IGBT ZCS Eoff 。

MOSFET的Eoff能耗是其米勒电容Crss、栅极驱动速度、栅极驱动关断源阻抗及源极功率电路路径中寄生电感的函数。该电路寄生电感Lx (如图8所示) 产生一个电势,通过限制电流速度下降而增加关断损耗。在关断时,电流下降速度di/dt由Lx和VGS(th)决定。如果Lx=5nH,VGS(th)=4V,则最大电流下降速度为VGS(th)/Lx=800A/μs。

一文搞懂MOSFET与IGBT的本质区别

总结

在选用功率开关器件时,并没有万全的解决方案,电路拓扑、工作频率、环境温度和物理尺寸,所有这些约束都会在做出最佳选择时起着作用。

在具有最小Eon损耗的ZVS 和 ZCS应用中,MOSFET由于具有较快的开关速度和较少的关断损耗,因此能够在较高频率下工作。

对硬开关应用而言,MOSFET寄生二极管的恢复特性可能是个缺点。相反,由于IGBT组合封装内的二极管与特定应用匹配,极佳的软恢复二极管可与更高速的SMPS器件相配合。

后语

MOSFE和IGBT是没有本质区别的,人们常问的“是MOSFET好还是IGBT好”这个问题本身就是错误的。至于我们为何有时用MOSFET,有时又不用MOSFET而采用IGBT,不能简单的用好和坏来区分,来判定,需要用辩证的方法来考虑这个问题。

转自:玩转单片机

围观 805

本文通过等效电路分析,通俗易懂的讲解IGBT的工作原理和作用,并精简的指出了IGBT的特点。可以说,IGBT是一个非通即断的开关,兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。
  
IGBT(绝缘栅双极型晶体管),是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大;MOSFET驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。
  
IGBT综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。
  
目前国内缺乏高质量IGBT模块,几乎全部靠进口。绝缘栅双极晶体管(IGBT)是高压开关家族中最为年轻的一位。由一个15V高阻抗电压源即可便利的控制电流流通器件从而可达到用较低的控制功率来控制高电流。
  
IGBT的工作原理和作用通俗易懂版:
  
IGBT就是一个开关,非通即断,如何控制他的通还是断,就是靠的是栅源极的电压,当栅源极加+12V(大于6V,一般取12V到15V)时IGBT导通,栅源极不加电压或者是加负压时,IGBT关断,加负压就是为了可靠关断。
  
IGBT没有放大电压的功能,导通时可以看做导线,断开时当做开路。
  
IGBT有三个端子,分别是G,D,S,在G和S两端加上电压后,内部的电子发生转移(半导体材料的特点,这也是为什么用半导体材料做电力电子开关的原因),本来是正离子和负离子一一对应,半导体材料呈中性,但是加上电压后,电子在电压的作用下,累积到一边,形成了一层导电沟道,因为电子是可以导电的,变成了导体。如果撤掉加在GS两端的电压,这层导电的沟道就消失了,就不可以导电了,变成了绝缘体。
  
IGBT的工作原理和作用电路分析版:
  
IGBT的等效电路如图1所示。由图1可知,若在IGBT的栅极和发射极之间加上驱动正电压,则MOSFET导通,这样PNP晶体管的集电极与基极之间成低阻状态而使得晶体管导通;若IGBT的栅极和发射极之间电压为0V,则MOSFET截止,切断PNP晶体管基极电流的供给,使得晶体管截止。

图1 IGBT的等效电路
  
由此可知,IGBT的安全可靠与否主要由以下因素决定:
  
--IGBT栅极与发射极之间的电压;
  
--IGBT集电极与发射极之间的电压;
  
--流过IGBT集电极-发射极的电流;
  
--IGBT的结温。
  
如果IGBT栅极与发射极之间的电压,即驱动电压过低,则IGBT不能稳定正常地工作,如果过高超过栅极-发射极之间的耐压则IGBT可能永久性损坏;同样,如果加在IGBT集电极与发射极允许的电压超过集电极-发射极之间的耐压,流过IGBT集电极-发射极的电流超过集电极-发射极允许的最大电流,IGBT的结温超过其结温的允许值,IGBT都可能会永久性损坏。
  
绝缘栅极双极型晶体管(IGBT)

文章来源:中国电力电子产业网(版权归作者所有)

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