这几个单片机技巧如果不了解,真的很难再进阶!

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demi 发布于:周五, 09/06/2019 - 09:53 ,关键词:

在单片机开发过程中,我们总被代码的执行效率、单片机器件的性能、成本困扰着,以至于用很长时间思考这类问题,这是难以避免的,毕竟开发过程中的性价比、执行效率等因素都是十分重要的考量因素。为了让大家更高效率的开发,小编总结了几个技巧,帮助大家进阶,在优秀的开发者路上越走越远!

如何提高C的代码效率?

用C语言进行单片机程序设计是单片机开发与应用的必然趋势。如果使用C编程时,要达到最高的效率,最好熟悉所使用的C编译器。 先试验一下每条C语言编译以后对应的汇编语言的语句行数,这样就可以很明确的知道效率。在今后编程的时候,使用编译效率最高的语句。

各种C编译器都会有一定的差异,故编译效率也会有所不同,优秀的嵌入式系统C编译器代码长度和执行时间仅比以汇编语言编写的同样功能程度长 5-20%。

虽然C语言是最普遍的一种高级语言,但由于不同的MCU厂家其C语言编译系统是有所差别的,特别是在一些特殊功能模块的操作上。所以如果对这些特性不了解,那么调试起来问题就会很多,反而导致执行效率低于汇编语言。

如何解决单片机的抗干扰性问题?

防止干扰最有效的方法是去除干扰源、隔断干扰路径,但往往很难做到,所以只能看单片机抗干扰能力够不够强了。单片机干扰最常见的现象就是 复位;至于程序跑飞,其实也可以用软件陷阱和看门狗将程序拉回到复位状态;所以单片机软件抗干扰最重要的是处理好复位状态。

一般单片机都会有一些标志寄存 器,可以用来判断复位原因;另外你也可以自己在RAM中埋一些标志。在每次程序复位时,通过判断这些标志,可以判断出不同的复位原因;还可以根据不同的标 志直接跳到相应的程序。这样可以使程序运行有连续性,用户在使用时也不会察觉到程序被重新复位过。

如何测试单片机系统的可靠性?

对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法,但是有一些是必须测试的:

测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试,测试软件是否写的正确完整。

上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况,可以进行多次开关电源,测试单片机系统的可靠性。

老化测试。测试长时间工作情况下,单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温,高压以及强电磁干扰的环境下测试。

ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力;使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。

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