本文档适用于STM8和STM32系列微控制器,介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。
<font color="#0000C6" size="4"><a href="http://mcu.eetrend.com/files/2019-11/wen_zhang_/100046195-85032-cd00004…《静电放电敏感度测量》</a></font>
本文档适用于STM8和STM32系列微控制器,介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。
<font color="#0000C6" size="4"><a href="http://mcu.eetrend.com/files/2019-11/wen_zhang_/100046195-85032-cd00004…《静电放电敏感度测量》</a></font>